问题表现：谱图中出现多余吸收峰，无法准确识别目标物质的特征峰。
常见原因：样品中含有溶剂残留（如乙醇、丙酮）、水分，或未去除杂质（如固体样品中的灰尘、液体样品中的悬浮颗粒）。
解决方法：固体样品需通过重结晶、蒸馏等方式提纯；液体样品需用无水硫酸钠干燥除水，或采用溶剂萃取法去除杂质；测试前确保样品容器（如 KBr 压片模具、液体池）清洁无残留。
固体 KBr 压片时，样品与 KBr 混合比例不当（通常样品占比 1%-2%，比例过高易饱和，过低信号弱），或压片不紧实、有裂纹，导致光线散射。
液体样品过浓，或液体池厚度选择错误（如高浓度样品用 1mm 厚池，易出现饱和峰）。
问题表现：谱图基线漂移严重、吸收峰强度过低或出现平头峰（信号饱和）。
常见原因：
解决方法：调整样品与 KBr 混合比例，确保压片均匀无裂纹；根据样品浓度选择合适厚度的液体池（低浓度用 5mm 厚池，高浓度用 0.1mm 厚池）。
仪器内部受潮（湿度＞65%），导致光学部件（如检测器、光栅）性能不稳定。
基线校正时，背景扫描区域有污染物（如样品室残留样品、空气中的水汽 / CO₂）。
仪器长时间未使用，光学部件未达到稳定状态。
问题表现：基线无法平直，或测试过程中基线持续向上 / 向下漂移，影响峰面积积分与峰位判断。
常见原因：
解决方法：开启仪器内置除湿功能，或在样品室放置干燥剂（如变色硅胶），待湿度降至 40%-60% 再校正；校正前清洁样品室，用空白 KBr 片或空液体池扫描背景；开机后预热 30-60 分钟，待仪器稳定后再操作。
测试后未及时清理样品室，残留样品挥发或散落，污染光学镜片。
放置样品时碰撞样品台，导致样品台位置偏移，光线无法正常通过样品。
液体样品泄漏，腐蚀样品室内部部件（如金属样品台、密封垫）。
问题表现：谱图中出现固定位置的杂峰（如空气中 CO₂的 2349cm⁻¹ 峰、水汽的 1630cm⁻¹ 峰异常增强），或仪器报错 “样品室未关闭"“检测器异常"。
常见原因：
解决方法：每次测试后用干净的软布擦拭样品室，若有液体泄漏，立即用无水乙醇清理并晾干；调整样品台位置，确保样品中心与光路对齐；定期检查样品室密封垫，若老化或损坏及时更换。
样品测试时温度波动（如室温变化超过 5℃），导致分子振动频率改变。
数据处理时分辨率设置不当（如低分辨率扫描导致峰形宽化，无法区分邻近峰）。
固体样品研磨不充分，颗粒度过大，导致光线散射，峰形失真。
问题表现：目标物质的特征峰位置与标准谱图偏差超过 1-2cm⁻¹，或峰形宽化、分裂。
常见原因：
解决方法：在恒温环境（20-25℃）下测试，避免温度剧烈变化；根据样品需求选择合适分辨率（通常有机化合物测试用 4cm⁻¹ 分辨率，精细分析用 2cm⁻¹）；固体样品需研磨至粒径＜5μm，确保混合均匀。
样品中含有多种杂质，干扰特征峰识别。
谱库选择错误（如用无机物谱库匹配有机样品，或谱库版本过旧，缺少目标物质谱图）。
测试范围设置不当（如未覆盖目标物质的关键特征峰区域，如 OH 的 3200-3600cm⁻¹）。
问题表现：测试谱图与标准谱库中的谱图匹配度低于 80%，无法确定样品成分。
常见原因：
解决方法：先提纯样品，去除杂质后重新测试；选择与样品类型匹配的谱库（如 NIST、Sadtler 谱库）；确保测试范围覆盖 4000-400cm⁻¹（中红外区），避免遗漏关键特征峰。
问题表现：谱图信号强度显著降低，信噪比变差，弱吸收峰无法识别。
常见原因：检测器长时间使用后老化，或暴露在强光、高湿度环境中受损；检测器窗口有灰尘或样品残留，影响光线接收。
解决方法：定期（每 3-6 个月）由专业人员检查检测器性能，若老化严重需更换；每次维护时用镜头纸蘸无水乙醇轻轻擦拭检测器窗口，避免刮伤。
问题表现：仪器报错 “光源能量低"，或谱图中全波段信号强度普遍偏低。
常见原因：光源（如硅碳棒、氘灯）使用时间超过寿命（通常硅碳棒寿命为 2000-3000 小时）；光源供电不稳定，或光源与光路 alignment 偏移。
解决方法：记录光源使用时间，达到寿命前及时更换；检查仪器供电电压是否稳定（需符合 220V±5% 要求）；若光路偏移，联系厂家技术人员重新校准光路。
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