样品污染或杂质过多
样品中含有高沸点杂质、颗粒物或水分,会污染色谱柱和进样口,导致柱效下降、基线漂移、峰形畸变,甚至损坏色谱柱。
进样量过大或浓度过高
超过色谱柱和检测器的承载能力,会导致峰形拖尾、分叉,甚至出现过载,影响分离效果和定量准确性。
溶剂选择不当
使用与色谱柱不兼容的溶剂,会溶解或损伤固定相,导致柱流失和分离性能下降。
进样速度过慢或进样针残留
会导致样品峰展宽,影响分离度和重复性。进样针未充分清洗会造成样品交叉污染。
分流比设置不合理
分流比过大,会导致微量组分检测不到;分流比过小,会导致峰形过载。
柱温设置不当
柱温过高会加速固定相流失,缩短柱寿命;柱温过低则会导致分离时间过长、峰形展宽。程序升温速率过快,也会影响分离效果。
色谱柱老化不充分或老化过度
新柱或长期未用的柱子未充分老化,会导致基线噪声大、漂移;老化温度超过柱子耐受温度,会直接损坏固定相。
载气纯度不足或流量不稳定
载气中含有氧气、水分等杂质,会氧化和水解固定相,导致柱流失。载气流量波动会影响保留时间和峰面积的重复性。
检测器温度或参数设置不当
例如,FID 检测器的氢气、空气流量比例不当,会导致火焰不稳定、基线噪声增大;ECD 检测器的放射源污染,会导致灵敏度下降。
检测器污染
样品中的高沸点物质或残留溶剂会污染检测器,导致基线漂移、灵敏度降低,甚至出现鬼峰。
环境温度、湿度波动大
会影响仪器电子元件的稳定性,导致基线漂移和检测数据波动。
未定期维护
如未定期更换进样垫、清洗进样口、更换载气过滤器,会导致漏气、污染,影响仪器性能。




